Verfahren zur Durchführung einer Diagnose oder eines Selbsttests in einem Ultraschall-Messsystem
Anmelder: Elmos Semiconductor SE, ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3629058
- Aktenzeichen
- EP19191909
- Anmeldetag
- 15. August 2019
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2025
- Erteilung
- 26. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S15/931G01S7/52
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Durchführung einer Diagnose und/oder eines Selbsttests eines Ultraschall-Empfangselements (12, 14, 16, 18) eines Ultraschall-Messsystems (22) zur Detektion von Objekten in einem Erfassungsraum (20), das neben dem Ultraschall-Empfangselement (12, 14, 16, 18) ein in einem bekannten Abstand (26) zu diesem angeordnetes Ultraschall-Sendeelement (12, 14, 16, 18) aufweist, wobei bei dem Verfahren mittels eines Ultraschall-Sendeelements (12, 14, 16, 18) während eines Messzyklus zwecks Detektion von Objekten (28, 30) in dem Erfassungsraum (20) ein Ultraschall-Messsignal ausgesendet wird. Innerhalb eines durch die Ausbreitungsgeschwindigkeit von Ultraschall-Signalen und den Abstand (26) zwischen dem Ultraschall-Sendeelement (12, 14, 16, 18) und dem Ultraschall-Empfangselement (12, 14, 16, 18) definierten, mit der Aussendung des Ultraschall-Messsignals beginnenden Zeitintervalls wird eine Diagnose und/oder ein Selbsttest des Ultraschall-Empfangslements (12, 14, 16, 18) durchgeführt. Die Diagnose und/oder der Selbsttest wird spätestens mit dem Ende des Zeitintervalls abgeschlossen und/oder abgebrochen.
Anmelder
- Firmen
- Elmos Semiconductor SE
ELMOS Semiconductor AG - Land
- 🇩🇪 Deutschland
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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