Verfahren zur Steuerung eines Mikroskopsystems, Mikroskopsystem und Aufzeichnungsmedium

EP3629070 Art B1 13. November 2024

Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3629070
Aktenzeichen: EP19198887
Anmeldetag: 23. September 2019
Veröffentlichung: 13. November 2024
Erteilung: 13. November 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/16G02B21/36// G02B27/58

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SYSMEX CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

921 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von