Prüfvorrichtung und Prüfvorrichtungssteuerverfahren

EP3663753 Art B1 1. Januar 2025

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3663753
Aktenzeichen: EP18775515
Anmeldetag: 30. März 2018
Veröffentlichung: 1. Januar 2025
Erteilung: 1. Januar 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N29/12G01N29/04G01N29/42G01N29/22G01N29/44

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

18.204 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von