Verfahren zur Bestimmung des Winkels einer Sonde, Vorrichtung zur Untersuchung von Hochfrequenzeigenschaften, Programm und Speichermedium
EP3680674
Art B1
4. Mai 2022
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, National Institute Of Advanced Industrial Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3680674
- Aktenzeichen
- EP18853295
- Anmeldetag
- 7. September 2018
- Veröffentlichung
- 4. Mai 2022
- Erteilung
- 4. Mai 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R31/26G01R27/06G01R35/00G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
National Institute Of Advanced Industrial Science - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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