Verfahren, Vorrichtung und System zur Latenzmessung in einer Physikalischen Einheit einer Schaltung

EP3719659 Art B1 4. Oktober 2023

Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3719659
Aktenzeichen
EP20175936
Anmeldetag
30. Oktober 2013
Veröffentlichung
4. Oktober 2023
Erteilung
4. Oktober 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G06F13/38
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
INTEL Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.631 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen