Halterung zum Platzieren von Analyseplatten und Analyse-Kit

EP3726225 Art A1 21. Oktober 2020

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3726225
Aktenzeichen: EP18888752
Anmeldetag: 26. November 2018
Veröffentlichung: 21. Oktober 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01N35/02G01N35/04B01L9/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

606 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik

Vertreten von