2D-Mehrschichtdickenmessung mit Rekonstruiertem Hyperspektralem Interferenzmuster

EP3730034 Art A1 28. Oktober 2020

Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3730034
Aktenzeichen: EP20171246
Anmeldetag: 24. April 2020
Veröffentlichung: 28. Oktober 2020
Rechtsraum: EP
IPC: A61B3/10G01B11/06G01J3/45A61B3/00// G01J3/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Topcon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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