Verfahren, Vorrichtung und System zur Strahlfehlerdetektion

EP3745759 Art A1 2. Dezember 2020

Anmelder: HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3745759
Aktenzeichen
EP19753764
Anmeldetag
31. Januar 2019
Veröffentlichung
2. Dezember 2020
Rechtsraum
EP
IPC
H04W16/00H04B7/06H04B7/08H04L5/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Huawei

Chinesisches Technologieunternehmen mit Sitz in Shenzhen. Entwickelt Telekommunikationsinfrastruktur, Netzwerktechnik, Smartphones und weitere Unterhaltungs- und Kommunikationselektronik.

31.952 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen