Register für bei Geschwindigkeit Durchgeführtem Scan-Test
EP3751298
Art A1
16. Dezember 2020
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3751298
- Aktenzeichen
- EP20177989
- Anmeldetag
- 3. Juni 2020
- Veröffentlichung
- 16. Dezember 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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