Verfahren zur Detektion und Verminderung von Speichermedienverschlechterung und Speichervorrichtungen damit
EP3769203
Art A1
27. Januar 2021
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3769203
- Aktenzeichen
- EP19770468
- Anmeldetag
- 4. März 2019
- Veröffentlichung
- 27. Januar 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C16/34G11C7/10G06F3/06G11C7/06G11C7/04G11C7/22G11C11/406G11C11/4076G11C13/00G11C11/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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