Ladungsteilchenmikroskop mit einem Pixelierten Detektor und Verfahren zum Nachweis von Teilchenstrahlung unter Verwendung eines Pixelierten Detektors
EP3780065
Art A1
17. Februar 2021
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3780065
- Aktenzeichen
- EP19191256
- Anmeldetag
- 12. August 2019
- Veröffentlichung
- 17. Februar 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244G01T1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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