Testverfahren und -System eines auf einer Montageplatte Montierten Integrierten Schaltkreises

EP3789779 Art A1 10. März 2021

Anmelder: The Swatch Group Research and Development Ltd 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3789779
Aktenzeichen: EP19196182
Anmeldetag: 9. September 2019
Veröffentlichung: 10. März 2021
Rechtsraum: EP
IPC: G01R31/28G01R31/70

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: The Swatch Group Research and Development Ltd
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 The Swatch Group Research and Development

Schweizer Forschungs- und Entwicklungsgesellschaft des Swatch-Konzerns, zuständig für Innovationen in Uhrwerktechnik, Materialien und Fertigungsverfahren für die Uhrenmarken der Gruppe.

556 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von