Markierung mit einem Zweidimensionalen Mustercode und Lagedetektioninversionsmustern
EP3839419
Art B1
15. Mai 2024
Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3839419
- Aktenzeichen
- EP19850499
- Anmeldetag
- 9. August 2019
- Veröffentlichung
- 15. Mai 2024
- Erteilung
- 15. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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