Speicherprüfung durch Wiederholtes Lesen und Prüfen von Speicherinhalten nach Lesezugriff
EP3913634
Art B1
26. März 2025
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3913634
- Aktenzeichen
- EP20176013
- Anmeldetag
- 22. Mai 2020
- Veröffentlichung
- 26. März 2025
- Erteilung
- 26. März 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/42G11C29/04G11C29/50G06F11/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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