Verfahren zum Testen eines Steuerchips und Zugehörige Vorrichtung

EP3933842 Art A1 5. Januar 2022

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3933842
Aktenzeichen
EP20923997
Anmeldetag
15. Oktober 2020
Veröffentlichung
5. Januar 2022
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/02G11C29/12G11C29/14G11C29/44G11C29/56G06F11/263// G11C5/02G11C29/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Software & Datenverarbeitung

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