Verfahren, System, Vorrichtung und Programm zur Unterstützung der Qualitätskontrolle
Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3945321
- Aktenzeichen
- EP21187161
- Anmeldetag
- 22. Juli 2021
- Veröffentlichung
- 23. August 2023
- Erteilung
- 23. August 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N35/00G06F3/0484G16H40/40
Abstract
A quality control support method for displaying a control chart of quality control related to an analyzer that measures a subject sample, the method comprising: generating a first control chart showing results of measured quality control substances by the analyzer in a first period; receiving a designation of a second period different from the first period, the second period being shorter than the first period and at least partially overlapping with the first period; generating a second control chart showing results of the measured subject samples by the analyzer in the second period; displaying the generated first control chart; and displaying the generated second control, is provided.
Anmelder
- Firma
- SYSMEX CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.
921 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München