System und Verfahren zur Bestimmung der Topologie von Fertigungsanlagen und Informationen zur Fehlerausbreitung
EP3945386
Art A1
2. Februar 2022
Anmelder: Palo Alto Research Center Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3945386
- Aktenzeichen
- EP21182999
- Anmeldetag
- 30. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 2. Februar 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G05B23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Palo Alto Research Center Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Palo Alto Research Center
US-amerikanisches Forschungsinstitut in Palo Alto, bekannt als PARC, das für Xerox und externe Auftraggeber Grundlagen- und angewandte Forschung in Informatik, Elektronik und Materialwissenschaften betreibt.
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