Messverfahren zur Interferometrischen Bestimmung einer Oberflächenform
EP3948156
Art B1
24. Dezember 2025
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3948156
- Aktenzeichen
- EP20712522
- Anmeldetag
- 17. März 2020
- Veröffentlichung
- 24. Dezember 2025
- Erteilung
- 24. Dezember 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01M11/00G02B5/18B29D11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss SMT GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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Vertreten von
-
Zeuner Summerer Stütz
Zeuner Summerer Stütz · München