Verfahren zur Prüfung von Halbleitern und Halbleiterprüfvorrichtung
EP3958210
Art B1
28. Mai 2025
Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3958210
- Aktenzeichen
- EP20818826
- Anmeldetag
- 16. April 2020
- Veröffentlichung
- 28. Mai 2025
- Erteilung
- 28. Mai 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/00G06T7/30H01L21/66G06N3/04G06N3/08G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hamamatsu Photonics K.K.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hamamatsu Photonics
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München