Kalibrierung eines Temperaturerkennungsmoduls in einem Halbleiterspeicher mit einer Vielzahl von Speicherchips
EP3965105
Art B1
7. Februar 2024
Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3965105
- Aktenzeichen
- EP20937169
- Anmeldetag
- 15. Dezember 2020
- Veröffentlichung
- 7. Februar 2024
- Erteilung
- 7. Februar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/02G11C29/50G11C7/04G11C11/407G11C11/406
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Changxin Memory Technologies, Inc.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
2.637 Patente in unserer Datenbank