Vorrichtung und Verfahren zur Messung Optischer Interferenzen

EP3978865 Art B1 28. August 2024

Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3978865
Aktenzeichen
EP20813602
Anmeldetag
25. Mai 2020
Veröffentlichung
28. August 2024
Erteilung
28. August 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01N21/17G01B9/02004G01B9/02091G01N21/47
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
TOPCON CORPORATION
RIKEN
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen