Vorrichtung und Verfahren zur Messung Optischer Interferenzen
EP3978865
Art B1
28. August 2024
Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3978865
- Aktenzeichen
- EP20813602
- Anmeldetag
- 25. Mai 2020
- Veröffentlichung
- 28. August 2024
- Erteilung
- 28. August 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01N21/17G01B9/02004G01B9/02091G01N21/47
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOPCON CORPORATION
RIKEN - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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