Verfahren und Vorrichtung zur Reparatur von Ausfallbits

EP3985675 Art B1 31. Januar 2024

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3985675
Aktenzeichen
EP21773439
Anmeldetag
9. Juni 2021
Veröffentlichung
31. Januar 2024
Erteilung
31. Januar 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/00G11C29/44// G06F11/20G11C29/40G11C29/42
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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