Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Fehlgeschlagenen Bit-Reparaturschemas und Chip
EP3992972
Art B1
4. September 2024
Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3992972
- Aktenzeichen
- EP21773271
- Anmeldetag
- 16. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 4. September 2024
- Erteilung
- 4. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/00G11C29/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Changxin Memory Technologies, Inc.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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