3D-Kartierung von Proben in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
EP4012745
Art B1
30. April 2025
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4012745
- Aktenzeichen
- EP21212670
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 30. April 2025
- Erteilung
- 30. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22H01J37/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank