Spaltlampenmikroskop, Ophthalmisches System, Verfahren zur Steuerung des Spaltlampenmikroskops und Aufzeichnungsmedium

EP4023142 Art A1 6. Juli 2022

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4023142
Aktenzeichen
EP20858277
Anmeldetag
1. Juni 2020
Veröffentlichung
6. Juli 2022
Rechtsraum
EP
IPC
A61B3/135
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
TOPCON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Kanzlei
Patentanwalt Dr. Roland Gagel München, Deutschland
549
Patente gesamt
1
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