Verfahren und System zur Komponentenanalyse von Spektraldaten
EP4040143
Art B1
19. Juni 2024
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4040143
- Aktenzeichen
- EP22154151
- Anmeldetag
- 31. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 19. Juni 2024
- Erteilung
- 19. Juni 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20091G01N23/2252
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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