Wafer-Level-Testverfahren für Opto-Elektronische Chips
EP4049048
Art B1
12. Februar 2025
Anmelder: JENOPTIK Optical Systems GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4049048
- Aktenzeichen
- EP20740227
- Anmeldetag
- 19. Juni 2020
- Veröffentlichung
- 12. Februar 2025
- Erteilung
- 12. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R31/311
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JENOPTIK Optical Systems GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland