Verfahren und System zur Bestimmung einer Kristallstruktur

EP4067886 Art A1 5. Oktober 2022

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4067886
Aktenzeichen
EP22163248
Anmeldetag
21. März 2022
Veröffentlichung
5. Oktober 2022
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/20058H01J37/28G01N23/205
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Pecharová, Petra FEI Company · Inhouse Eindhoven, Niederlande
86
Patente gesamt
13
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
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