Verfahren und Systeme zur Erfassung von Dreidimensionalen Elektronenbeugungsdaten
EP4067887
Art B1
16. April 2025
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4067887
- Aktenzeichen
- EP22163384
- Anmeldetag
- 21. März 2022
- Veröffentlichung
- 16. April 2025
- Erteilung
- 16. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20058G06T7/80H01J37/28G01N23/04G01N23/205H01J37/147H01J37/295
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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