Optische Messvorrichtung und Messverfahren

EP4083658 Art B1 28. Januar 2026

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, National Institute Of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4083658
Aktenzeichen: EP20907087
Anmeldetag: 29. Oktober 2020
Veröffentlichung: 28. Januar 2026
Erteilung: 28. Januar 2026
Rechtsraum: EP
IPC: G01S17/32G01S17/34G01S17/58G01S7/481G01S7/4911G01S7/4915

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
National Institute Of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von