Überwachungsinstrument und Photogrammetrisches Verfahren

EP4086570 Art B1 7. August 2024

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4086570
Aktenzeichen
EP22181568
Anmeldetag
10. Dezember 2019
Veröffentlichung
7. August 2024
Erteilung
7. August 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01C11/02G06T7/593G06T7/55G01S17/06G01C11/06G01C15/00G01C11/08// G01S7/481G01S17/89
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
TOPCON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen