Sensor zur Messung eines Magnetfeldes

EP4099041 Art B1 20. November 2024

Anmelder: Humboldt-Universität zu Berlin, Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4099041
Aktenzeichen
EP21177745
Anmeldetag
4. Juni 2021
Veröffentlichung
20. November 2024
Erteilung
20. November 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01R33/26G01R33/32// G01R33/00G01R33/032
Offizieller Volltext

Abstract

An embodiment of the invention relates to a sensor comprising a sensor element (10) for measuring a magnetic field, the sensor element (10) comprising a set of at least two first input ports (Il), a set of at least two exit ports (E) each of which is connected to one of the first input ports (I1) via a corresponding first beam path (B1), a set of at least two second input ports (12) each of which is connected to a second beam path (B2), wherein the first beam paths (B1) extend through a common plane (CP) located inside the sensor element (10), said plane (CP) comprising a plurality of magneto-optically responsive defect centers, wherein the second beam paths (B2) also extend through said common plane (CP), but are angled with respect to the first beam paths (B1) such that a plurality of intersections between the first and second beam paths (B2) is defined, and wherein each intersection forms a sensor pixel (P) located at at least one of said magneto-optically responsive defect centers.

Anmelder

Firmen
Humboldt-Universität zu Berlin
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Fraunhofer-Gesellschaft

Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.

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Kanzlei
Patentanwalt Dr. Uwe Fischer Berlin, Deutschland

Gründete seine Berliner Kanzlei 2005 nach Stationen bei Maikowski & Ninnemann und als Siemens-Patentanwalt mit Auslandseinsätzen in New Jersey und Singapur. Promovierter Elektrotechniker, berät zu Patenten, Marken und Designschutz und ist bei VDE, IEEE und AIPPI aktiv.

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