System und Verfahren zur Feinen und Groben Anomaliedetektion mit mehreren Aggregationsschichten
EP4113337
Art A1
4. Januar 2023
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4113337
- Aktenzeichen
- EP22176692
- Anmeldetag
- 1. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F21/52G06F21/55G06F21/56G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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