Abbildungssystem und Verfahren zur Abbildung einer Probe
Anmelder: Imec VZW 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4116777
- Aktenzeichen
- EP21183899
- Anmeldetag
- 6. Juli 2021
- Veröffentlichung
- 11. Januar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03H1/02G03H1/04G03H1/00G03H1/08// G02B5/28
Abstract
According to an aspect of the present inventive concept there is provided an imaging system (1a, 1 b, 1c, 1d) for imaging of a sample (4), comprising (1a, 1b, 1c, 1d) a light source (2, 2d), an interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) and a detector (9), the light source (2, 2d) generates illumination light of a single wavelength (3, 3c, 3d, 3e) to induce elastic scattering of the light (3, 3c, 3d, 3e) by the sample (4), the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) selectively reduces transmittance of light having an incident angle (θa, θb) on the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) corresponding to non-scattered light (7, 7c, 7d, 7e), the detector (9) is configured to detect a two-dimensional representation (10) of the elastically scattered light (6, 6c, 6d, 65) transmitted by the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d).
Anmelder
- Firma
- Imec VZW
- Land
- 🇧🇪 Belgien
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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