Abbildungssystem und Verfahren zur Abbildung einer Probe

EP4116777 Art A1 11. Januar 2023

Anmelder: Imec VZW 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4116777
Aktenzeichen
EP21183899
Anmeldetag
6. Juli 2021
Veröffentlichung
11. Januar 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G03H1/02G03H1/04G03H1/00G03H1/08// G02B5/28
Offizieller Volltext

Abstract

According to an aspect of the present inventive concept there is provided an imaging system (1a, 1 b, 1c, 1d) for imaging of a sample (4), comprising (1a, 1b, 1c, 1d) a light source (2, 2d), an interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) and a detector (9), the light source (2, 2d) generates illumination light of a single wavelength (3, 3c, 3d, 3e) to induce elastic scattering of the light (3, 3c, 3d, 3e) by the sample (4), the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) selectively reduces transmittance of light having an incident angle (θa, θb) on the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d) corresponding to non-scattered light (7, 7c, 7d, 7e), the detector (9) is configured to detect a two-dimensional representation (10) of the elastically scattered light (6, 6c, 6d, 65) transmitted by the interference filter (8a, 8b, 8c, 8d).

Anmelder

Firma
Imec VZW
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

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