Informationsprojektionssystem und Informationsprojektionsverfahren

EP4119895 Art A1 18. Januar 2023

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4119895
Aktenzeichen: EP22184079
Anmeldetag: 11. Juli 2022
Veröffentlichung: 18. Januar 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01C15/00G01C15/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von