Verfahren zum Testen eines Steuerchips und Zugehörige Vorrichtung

EP4120276 Art A1 18. Januar 2023

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4120276
Aktenzeichen
EP20924796
Anmeldetag
15. Oktober 2020
Veröffentlichung
18. Januar 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/12G11C29/56G01R31/28G01R31/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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