Messvorrichtung, Belichtungsvorrichtung und Messverfahren
EP4137776
Art A1
22. Februar 2023
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4137776
- Aktenzeichen
- EP20931549
- Anmeldetag
- 13. April 2020
- Veröffentlichung
- 22. Februar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München