Detektion der Temperaturbelastung Aufgrund der Fehlerraten der Speicherzellenbehaltung
EP4137791
Art B1
18. September 2024
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4137791
- Aktenzeichen
- EP22179883
- Anmeldetag
- 20. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 18. September 2024
- Erteilung
- 18. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01K3/00G01K3/04G01K7/36G11C11/00G11C7/04G11C11/16G11C16/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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