Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Einfallswinkels
EP4137844
Art A1
22. Februar 2023
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4137844
- Aktenzeichen
- EP21192349
- Anmeldetag
- 20. August 2021
- Veröffentlichung
- 22. Februar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S13/34G01S13/931G01S13/42G01S13/536G01S7/35// G01S13/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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