Röntgen- und Partikeldetektionssystem mit Spektraler und Räumlicher Auflösung

EP4139714 Art A1 1. März 2023

Anmelder: Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. 🇺🇸

Details

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von

Müller, Silke Carl Zeiss AG · Inhouse Jena, Deutschland

Patente gesamt

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