Mikroskopanordnung und Verfahren zum Messen einer Oberflächenstruktur einer Probe
EP4143502
Art B1
17. Dezember 2025
Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Karlsruher Institut für Technologie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT) 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4143502
- Aktenzeichen
- EP21709974
- Anmeldetag
- 3. März 2021
- Veröffentlichung
- 17. Dezember 2025
- Erteilung
- 17. Dezember 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G02B5/18G01B9/02015G01B9/02017G01B9/0209G02B27/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Karlsruher Institut für Technologie
Karlsruher Institut für Technologie (KIT) - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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🇩🇪
Karlsruher Institut für Technologie
Deutsche Universität und Forschungseinrichtung in Karlsruhe, entstanden aus Fusion von Universität und Großforschungszentrum, mit Lehre und Forschung in Natur-, Ingenieur- und Technikwissenschaften.
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