Neigungsanalyseverfahren, Neigungsanalyseprogramm und Neigungsanalysevorrichtung
EP4145089
Art A1
8. März 2023
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4145089
- Aktenzeichen
- EP22192173
- Anmeldetag
- 25. August 2022
- Veröffentlichung
- 8. März 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/00G01C9/00E04G21/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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