Verfahren zur Messung Physikalischer Eigenschaften, Vorrichtung zur Messung Physikalischer Eigenschaften und Sonde
EP4145107
Art B1
14. August 2024
Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4145107
- Aktenzeichen
- EP21797471
- Anmeldetag
- 19. April 2021
- Veröffentlichung
- 14. August 2024
- Erteilung
- 14. August 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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Fachgebiete
Kanzlei
Meissner Bolte Patentanwälte
Bremen, Deutschland
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Meissner Bolte Partnerschaft mbB · München