Vorrichtung zur Schätzung der Abweichung Vertikaler Linien

EP4151950 Art A1 22. März 2023

Anmelder: Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4151950
Aktenzeichen: EP21803793
Anmeldetag: 12. April 2021
Veröffentlichung: 22. März 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01C9/08G01C21/30G01C19/00G01C21/16G01V7/16G01C21/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Tokyo Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.

739 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von