Vorrichtung zur Inspektion des Ungleichmässigkeitsniveaus, Verfahren zur Inspektion des Ungleichmässigkeitsniveaus und Programm dafür

EP4159379 Art A1 5. April 2023

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4159379
Aktenzeichen: EP22198451
Anmeldetag: 28. September 2022
Veröffentlichung: 5. April 2023
Rechtsraum: EP
IPC: B25H7/04G01C1/00G01C3/00G01C5/00G01C15/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

Vertreten von