Vorrichtung zur Inspektion des Ungleichmässigkeitsniveaus, System zur Inspektion des Ungleichmässigkeitsniveaus und Verfahren zur Inspektion des Ungleichmässigkeitsniveaus
EP4159380
Art B1
17. Juli 2024
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4159380
- Aktenzeichen
- EP22198755
- Anmeldetag
- 29. September 2022
- Veröffentlichung
- 17. Juli 2024
- Erteilung
- 17. Juli 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B25H7/04G01C1/02G01C3/16G01C3/20G01C3/30G01C5/00G01C15/02G01C15/04G01C15/06G01C15/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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