Lernverfahren zur Erkennung von Anomalien aus Sätzen von Multivariablen Daten und Zugehöriges Anomalieerkennungsverfahren
EP4172815
Art A1
3. Mai 2023
Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4172815
- Aktenzeichen
- EP21733998
- Anmeldetag
- 21. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F17/18G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics International N.V.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
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