Substratmesssubsystem
EP4186091
Art A1
31. Mai 2023
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4186091
- Aktenzeichen
- EP21845417
- Anmeldetag
- 21. Juli 2021
- Veröffentlichung
- 31. Mai 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66H01L21/67H01L21/677G01B11/00G01N21/21G01N21/95// G01B21/08G01N21/27
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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