Verfahren zur Extraktion von Cief-Ms-Profilen aus M/z-Zeit-Arrays

EP4197023 Art A1 21. Juni 2023

Anmelder: DH Technologies Development Pte. Ltd. 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4197023
Aktenzeichen: EP21758155
Anmeldetag: 9. August 2021
Veröffentlichung: 21. Juni 2023
Rechtsraum: EP
IPC: H01J49/00G01N27/26G01N30/86

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Anmelder

Firma: DH Technologies Development Pte. Ltd.
Land: 🇸🇬 Singapur

🇸🇬 DH Technologies Development Pte. Ltd.

Singapurische Patentverwaltungsgesellschaft im Danaher-Konzern, verbunden mit der Massenspektrometrie-Marke Sciex. Patente betreffen analytische Messgeräte und Massenspektrometrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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