Verteilter Mechanismus zur Feinkörnigen Testleistungssteuerung
EP4198736
Art A1
21. Juni 2023
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4198736
- Aktenzeichen
- EP22212786
- Anmeldetag
- 12. Dezember 2022
- Veröffentlichung
- 21. Juni 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/22G06F11/27G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
3.600 Patente in unserer Datenbank